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NaU1000 NaU1000
型號:NaU1000

新品【免拆分】

 

 

應用領域

RoHS指令篩選檢測

 

技術特點

配置最新專利技術“樣品免拆分”檢測模式:采用最新專利技術的光路結構,最小照射光斑直徑可達到1mm,輔以精確的光斑定位系統,從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求

配置符合中國國家標準的樣品混測功能:方形4mmⅩ4mm光斑設計,配合1mm光斑配合使用,能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區域掃描測量功能;從而顯著節省測量時間,大幅度提高檢測效率

配置On-Line實時在線技術支持系統(選配):實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題,同時對用戶操作人員進行培訓

配置十二組復合濾光片:NaU1000型配置了12組復合型濾光片,是業界配置最全、數目最多的配置之一;12組濾光片的配置,極大的保證了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性

內置標準工作曲線:儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品認證要求的基礎材料的工作曲線,方便用戶直接使用;并與國家指定的認證檢測實驗室保持一致

具備開放的工作曲線技術平臺:基于開放的工作曲線技術平臺,電子生產企業可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線,確保XRF分析儀檢測結果的可靠性和準確性

分析軟件操作系統分級管理:儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單,便于工廠有序管理;操作員菜單簡單直觀,避免儀器重要參數的誤修改;工程師菜單功能強大,儀器的各種參數設置權限全部開放給用戶

采用經典的迷宮式輻射防護結構:采用了經典的迷宮式輻射防護結構,在保持儀器外形美觀操作方便的同時,徹底杜絕低能散射X射線的泄露

可選配專利技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能:納優科技獨創的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術,顯著提高鍍層厚度測量的準確度;最大可測量鍍層數量為9層;徹底解決了常規XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題

外觀設計實用美觀:符合人體工程學的儀器外形設計,操作人員測量過程方便舒適

 

分析方法及系統軟件

分析方法配置:

基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法

► 經驗系數法

► 理論α系數法

軟件功能描述:

 RoHS指令、無鹵指令等環保指令所限制的PbHgCdTCrTBrCl等元素含量的分析

► 各種金屬材料、無機非金屬材料(不包括聚合物材料)的材質分析(SU元素)

► 聚合物等有機材料中硫(S)~鈾(U)元素的含量分析

► 分析報告的自主定制與輸出打印

► 分析結果的保存、查詢及統計

► On-Line實時在線技術支持與技術服務功能(選配)

► 多層鍍層厚度測量功能(選配)

 

主要配置

►美國Si-PIN電制冷半導體探測器

►側窗鉬(Mo)靶管

►標配12組復合濾光片

►配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器

►具備符合中國國家標準的樣品混側功能

►內置標準工作曲線

►具備開放工作曲線技術平臺

►分析軟件操作系統分級管理

 

產品參數

名稱:X熒光光譜儀

型號:NaU1000

輸入電壓:220±5V/50Hz

消耗功率:≤500W

環境溫度:15-30℃

環境濕度:≤80%(不結露)

主機外形(mm:長*寬*高=820*500*425

樣品倉(mm:長*寬*高=430*380*105

主機重量:約55公斤

 

技術指標

元素種類:元素周期表中硫(S)~鈾(U)之間元素

測量時間:

        對聚合物材料,典型測量時間為300

        對銅基體材料,典型測量時間為600

檢出限指標(LOD):

        對聚合物材料:LODPb)≤5mg/KgLODHg)≤5mg/KgLODTCr)≤5mg/KgLODTBr)≤5mg/KgLODCd)≤5mg/Kg

        對銅基體材料:LODPb)≤50mg/Kg

精密度指標,以連續測量7次的標準偏差σ表征:

    對聚合物(塑膠)材料:LODPb)≤15mg/KgLODHg)≤15mg/KgLODTCr)≤15mg/KgLODTBr)≤15mg/KgLODCd)≤7mg/Kg

        對銅基體材料:LODPb)≤50mg/Kg

準確度指標,以系統偏差δ進行表征

        對聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg

        對銅基體材料:δ(Pb)≤150mg/Kg

 

軟件示例:

                    



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